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ZXl-820涂层测厚仪的技术参数及概述添加时间:2024-6-10 11:09:19
![ZXl-820涂层测厚仪的技术参数及概述](http://www.xkjc126.com/upfile/202406/2024061040194689.jpg)
ZXl-820涂层测厚仪
本仪器采用磁性测厚方法,可无损伤的检测磁性金属基铁(如:铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度。本仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业的仪器。
技术参数:
测量范围:(0~1250) μm
分 辨 率:0.1μm
示值精度:±(2%H+1) μm; H为被测涂层厚度
显示方法:128*64点阵液晶LCD
存储容量:可存储5组(每组Z多100个测量值)测量数据
单 位 制:公制(μm)、英制(mil),可自由转换
工作电压:3V(2节5号碱性电池)
持续工作时间:大于200小时(不开背光时)
通讯接口:USB通讯接口,可与PC机连接、通讯
外形尺寸:115mm×67mm×31 mm
整机重量:340g
标准配置:
主机 1个
测头 1个
校准片 5片
校零基体 1个
电池 2节
说明书 1本
保修卡 1个
仪器箱 1个
ZXl-820涂层测厚仪
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